有些电子设备在正常使用时莫名其妙地发生故障，在排除了其它原因后，就要考虑因静电放电（ESD）造成的损坏。现代半导体器件的规模越来越大，布线工艺已达到亚微米阶段，导致了半导体器件对外界应力敏感程度的提高。ESD对于电路引起的干扰及其对元器件特别是对CMOS 电路造成的破坏等问题越来越引起人们的重视。电路及其构成的电子设备的ESD电敏感度测试也开始作为电磁容性测试的一项重要内容。如何在电子产品设计时充分考虑ESD的防护，成为电子产品可靠性设计的重要环节。